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机器视觉非接触测量助力高精度IC尺寸测量

作者:kaiyun 时间:2023-05-23 00:18
本文摘要:随着工业现代化的发展,机器视觉早已普遍应用于各大领域,为企业及用户获取优于的产品品质及极致解决方案。 在工业领域对于IC尺寸测量,即测量IC各个插槽长度和间距。IC插槽是较为薄弱的部件,在生产和传输过程中,都会由于车祸操作者而产生倾斜、耗损、倒下等问题。 要确保最后的产品质量,在生产线上配有机器视觉系统,自动测量出有插槽的长度和间距就可以辨别出该产品否有上述的不良现象,机器视觉技术非认识测量的技术优势可以很大的提升生产效率,及时有效地的将不当产品去除,确保产品质量。

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随着工业现代化的发展,机器视觉早已普遍应用于各大领域,为企业及用户获取优于的产品品质及极致解决方案。  在工业领域对于IC尺寸测量,即测量IC各个插槽长度和间距。IC插槽是较为薄弱的部件,在生产和传输过程中,都会由于车祸操作者而产生倾斜、耗损、倒下等问题。

  要确保最后的产品质量,在生产线上配有机器视觉系统,自动测量出有插槽的长度和间距就可以辨别出该产品否有上述的不良现象,机器视觉技术非认识测量的技术优势可以很大的提升生产效率,及时有效地的将不当产品去除,确保产品质量。  下面,中国机器视觉商城小编入您引荐维视图像(Microvision)机器视觉系统解决方案之IC尺寸测量,看机器视觉技术大显身手。

  一、检测方案  软件一次将IC上下各7个插槽的长度测量出来,并将两两插槽的间距测量出来,结果不会通过串口或者以太网传输给执行机构。同时测量数据不会自动保存起来,便利先前做到品质掌控管理。

  二、系统性能  检测速度:3个/s  检测时间:3~4件/秒  检测精度:0.02mm  三、系统配置  照相机:MV-VD200SM(16001200、1/2、USB黑白CCD)  镜头:AFT-2514MP  光源:人组LED光源  PC:MV-VS820嵌入式处理器  软件:MV-MVIMS机器视觉图像处理软件  该检测系统可限于于电子、机械、半导体等行业的仪器零件尺寸测量。目前利用机器视觉非认识测量技术需要超过的最低精度早已超过亚微米级以上,同时,机器视觉技术的非认识测量方式,可以长时间地作测量、分析和辨识任务,很大的提升生产检测效率,符合高精度行业的市场需求。


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